台中資料救援-逄甲大學李同學

客戶名稱： 逄甲大學李同學

裝置型號： 廣穎USB16G

受損問題： Flash晶格損壞

救援過程

USB隨身碟長期使用下，容易造成該等電子儲存裝置發生晶片損弱的原因主要來自於晶片製造時密度較高，讀取速度變快而造成晶片主要的元素–晶格發生壞塊。此時若剛好壞到主控晶片讀取其控制程式出錯容易造成電腦讀不到該USB隨身碟發生了錯誤。有百分之十的機率是無法救回全部資料只能救出其他百分之九十。